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TPS7H4010EVM

Name: Texas Instruments TPS7H4010EVM
Brand: Texas Instruments
SKU: 595-TPS7H4010EVM
Price: 222.48 EUR
Availability: InStock

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N° Mouser :

595-TPS7H4010EVM

N° de fab. :

TPS7H4010EVM

Fab. :

Texas Instruments

Description :

Outils de développement de circuits intégrés pour la gestion de l'alimentation TPS7H4010-SEP radiat ion-hardened 3.5-V

Fiche technique:

TPS7H4010EVM Fiche technique

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Attribut de produit	Valeur d'attribut	Sélectionner l'attribut
Fabricant:	Texas Instruments
Catégorie du produit:	Outils de développement de circuits intégrés pour la gestion de l'alimentation
RoHS:
Produit:	Evaluation Modules
Type:	Voltage Regulator - Switching Regulator
Tension d'entrée:	3.5 V to 32 V
Tension de sortie:	1.8 V, 3.3 V
L'outil sert à l'évaluation de:	TPS7H4010-SEP
Série:	TPS7H4010
Marque:	Texas Instruments
Pays d’assemblage:	US
Pays de diffusion:	Not Available
Pays d'origine:	US
Courant de sortie:	6 A
Type de produit:	Power Management IC Development Tools
Nombre de pièces de l'usine:	1
Sous-catégorie:	Development Tools

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Fiche technique

TPS7H4010EVM Fiche technique

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STANDARD TERMS FOR EVALUATION MODULES (PDF)

TARIC:: 9030820000
CAHTS:: 9030820000
USHTS:: 9030820000
KRHTS:: 9030820000
MXHTS:: 9030820100
ECCN:: EAR99

Module d'évaluation (EVM) du convertisseur TPS7H4010EVM

Le module d’évaluation (EVM) de convertisseur TPS7H4010EVM de Texas Instruments est conçu pour aider les clients à évaluer les performances du convertisseur de tension Buck synchrone TPS7H4010-SEP. Le module d’évaluation contient deux circuits de convertisseur Buck indépendants, chacun comprenant le TPS7H4010-SEP de Texas Instruments dans le boîtier QFN (WQFN) à flancs mouillables à 30 broches. Les deux circuits fournissent des tensions de sortie très précises à 1,8 V et 3,3 V avec une capacité de courant pouvant atteindre 6 A avec un rendement exceptionnel dans une solution de très petite taille. Le module d’évaluation fournit plusieurs connecteurs d’alimentation, points de test et paramètres de mode et permet des options d’entrée, et donc une flexibilité de test.