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LP-MSPM0G3519

Name: Texas Instruments LP-MSPM0G3519
Brand: Texas Instruments
SKU: 595-LP-MSPM0G3519
Price: 22.78 EUR
Availability: InStock

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N° Mouser :

595-LP-MSPM0G3519

N° de fab. :

LP-MSPM0G3519

Fab. :

Texas Instruments

Description :

Cartes et kits de développement - ARM MSPM0G3519 LaunchPad development kit for

Cycle de vie:

Nouveau produit:

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Fiche technique:

LP-MSPM0G3519 Fiche technique (PDF)

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Fabricant:	Texas Instruments
Catégorie du produit:	Cartes et kits de développement - ARM
RoHS:
Série:	LP-MSPM0G3519
Produit:	Evaluation Modules
L'outil sert à l'évaluation de:	MSPM0G3519
Marque:	Texas Instruments
Largeur du bus de données:	32 bit
À utiliser avec:	Microcontrollers
Type d'interface:	CAN
Type de produit:	Development Boards & Kits - ARM
Nombre de pièces de l'usine:	1
Sous-catégorie:	Development Tools

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Fiche technique

LP-MSPM0G3519 Fiche technique (PDF)

EU Declaration of Conformity (PDF)

CAHTS:: 8473302000
USHTS:: 8473301180
MXHTS:: 8473300401
ECCN:: 5A992.C

Kit de développement LP-MSPM0G3519 LaunchPad™

Le kit de développement LaunchPad™LP-MSPM0G3519 de Texas Instruments est un module d'évaluation facile à utiliser pour le microcontrôleur (MCU) MSPM0G3519. Ce kit comporte une sonde de débogage intégrée pour la programmation, le débogage et la technologie EnergyTrace™. Le kit LaunchPad™ LP-MSPM0G3519 contient trois boutons, deux LED (une LED RGB et une LED ROUGE) et plus de 80 broches de connecteurs BoosterPack™. Ce kit alimenté par USB fournit un canal de retour UART via USB vers un PC, une sonde de débogage XDS110 intégrée et un cristal à horloge externe. De meilleurs résultats analogiques sont obtenus grâce à des emplacements réservés pour les filtres passe-bas CAN et CNA placés à d'excellentes positions, et à des options de référence externes disponibles à l'arrière du launchpad. Les applications typiques comprennent l'automatisation d'usine, les appareils ménagers, l'automatisation de bâtiment, l'infrastructure de grille, l'éclairage et l'électronique de carrosserie ainsi que l'infodivertissement et les clusters.