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ADM1275-1ACPZ-R7

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N° Mouser :

584-ADM1275-1ACPZ-R7

N° de fab. :

ADM1275-1ACPZ-R7

Fab. :

Analog Devices

Description :

Contrôleurs de tension à remplacement à chaud Low volt Positive Hot Swap + Power mon

Cycle de vie:

Obsolète

Fiche technique:

ADM1275-1ACPZ-R7 Fiche technique

Modèle de ECAO:

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Fabricant:	Analog Devices Inc.
Catégorie du produit:	Contrôleurs de tension à remplacement à chaud
Restrictions en matière d'expédition :	Mouser ne vend pas actuellement ce produit dans votre région.
RoHS:
Produit:	Controllers & Switches
Tension d’alimentation - Max.:	20 V
Tension d’alimentation - Min.:	2.95 V
Température de fonctionnement min.:	- 40 C
Température de fonctionnement max.:	+ 85 C
Style de montage:	SMD/SMT
Package/Boîte:	LFCSP-20
Conditionnement:	Reel
Conditionnement:	Cut Tape
Conditionnement:	MouseReel
Marque:	Analog Devices
Pays d’assemblage:	Not Available
Pays de diffusion:	Not Available
Pays d'origine:	KR
Kit de développement:	EVAL-ADM1275EBZ
Tension d’alimentation / en entrée maximale:	20 V
Tension d’alimentation / en entrée minimale:	2.95 V
Sensibles à l’humidité:	Yes
Type de produit:	Hot Swap Voltage Controllers
Série:	ADM1275
Nombre de pièces de l'usine:	1500
Sous-catégorie:	PMIC - Power Management ICs

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Fiche technique

ADM1275-1ACPZ-R7 Fiche technique

EOL

PCN

RoHS Certificate (PDF)

TARIC:: 8542399000
CNHTS:: 8542319090
CAHTS:: 8542390000
USHTS:: 8542390090
JPHTS:: 854239099
MXHTS:: 8542399999
ECCN:: EAR99

LM5060 High-Side Protection Controllers

Texas Instruments LM5060 High-Side Protection Controllers with Low Quiescent Current offers intelligent control of a high-side N-channel MOSFET during normal on/off transitions and fault conditions. The constant rise time of the output voltage results from the inrush current control. Both an Input UVLO (with hysteresis) and a programmable input OVP are provided, with an enable input offering a remote on or off control. The initial start-up V_GS fault detection delay time, the transition V_DS fault detection delay time, and the continuous over-current V_DS fault detection delay time is programmed from a single capacitor. The MOSFET is latched off until either the enable input, or the UVLO input is toggled low and then high when a detected fault condition persists longer than the allowed fault delay time.