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EVALDCLINKDPTTOBO1

Name: Infineon EVALDCLINKDPTTOBO1
Brand: Infineon Technologies
SKU: 726-EVALLINKDPTTOBO1
Price: 313.94 EUR
Availability: InStock

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N° Mouser :

726-EVALLINKDPTTOBO1

N° de fab. :

EVALDCLINKDPTTOBO1

Fab. :

Infineon Technologies

Description :

Outils de développement de circuits intégrés pour la gestion de l'alimentation Evaluation board for EiceDRIVER gate drive IC and CoolSiC 1200 V MOSFET

Cycle de vie:

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Fiche technique:

EVALDCLINKDPTTOBO1 Fiche technique (PDF)

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Fabricant:	Infineon
Catégorie du produit:	Outils de développement de circuits intégrés pour la gestion de l'alimentation
Marque:	Infineon Technologies
Type de produit:	Power Management IC Development Tools
Nombre de pièces de l'usine:	1
Sous-catégorie:	Development Tools
Raccourcis pour l'article N°:	SP006143298

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Fiche technique

EVALDCLINKDPTTOBO1 Fiche technique (PDF)

Codes de conformité

TARIC:: 8504409590
CNHTS:: 8543709990
USHTS:: 8504409580
JPHTS:: 850440090
ECCN:: EAR99

Classifications d’origine

Pays d'origine:: Chine
Pays d'origine de l'assemblage:: Chine
Pays de diffusion:: Non disponible

Le pays est susceptible de changer au moment de l’expédition.

Outils de développement

Infineon Development Tools offer a wide selection to enable the engineer's unique design, regardless of the target application. These range from LED lighting, power management, sensors, analog & digital ICs, communication, optoelectronic, and embedded development tools.
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Carte d'évaluation EVAL-DCLINK-DPT

La carte d'évaluation EVAL-DCLINK-DPT d'Infineon Technologies est une carte d'évaluation haute performance conçue pour prendre en charge les tests à double impulsion (DPT) des dispositifs semiconducteurs de puissance tels que les IGBTs et les MOSFET SiC. L'EVAL-DCLINK-DPT d'Infineon est conçue avec un CI pilote de grille EiceDRIVER™ et un MOSFET CoolSiC™ de 1 200 V dans un boîtier TO263-7. La carte comporte également un étage de liaison CC configurable avec des condensateurs à film intégrés, optimisés pour une commutation à grande vitesse et une caractérisation précise du comportement du dispositif dans des conditions de fonctionnement réelles.