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TMDP0200

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N° Mouser :

795-TMDP0200

N° de fab. :

TMDP0200

Fab. :

Tektronix

Description :

Sondes Differential PROBE; 200 MHZ TekVPI DIFFERENTIAL MEDIUM VOLTAGE PROBE;TMPD0200

Fiche technique:

TMDP0200 Fiche technique (PDF)

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Attribut de produit	Valeur d'attribut	Sélectionner l'attribut
Fabricant:	Tektronix
Catégorie du produit:	Sondes
Restrictions en matière d'expédition :	Mouser ne vend pas actuellement ce produit dans votre région.
RoHS:
Type d'équipement:	Differential Probe
Type:	High Voltage Probe
Marque:	Tektronix
Type de produit:	Test Probes
Nombre de pièces de l'usine:	1
Sous-catégorie:	Test Leads, Banana Plugs, Alligator Clips & Test Probes
Nom commercial:	TekVPI
Poids de l''unité:	1,071 kg

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Fiche technique

TMDP0200 Fiche technique (PDF)

RoHS Certificate (PDF)

Codes de conformité

TARIC:: 9030900000
CNHTS:: 9030900090
CAHTS:: 9030900000
USHTS:: 9030908911
JPHTS:: 903090000
KRHTS:: 9030909000
BRHTS:: 90309090
ECCN:: EAR99

Classifications d’origine

Pays d'origine:: Chine
Pays d'origine de l'assemblage:: Non disponible
Pays de diffusion:: Non disponible

Le pays est susceptible de changer au moment de l’expédition.

High Voltage Differential Probes

Tektronix High-Voltage Differential Probes allow users to safely and accurately make floating measurements. They are used for measuring the voltage difference between two test points where neither test point is at ground. These probes can be used for signals up to 6000V and bandwidths up to 200MHz. The devices have several options for connectivity, including a BNC interface (P5200A probes), TekVPI® interface (TMDP and THDP series probes), and a TekProbe® interface (P5202A, P5205A, and P5210A series probes). Tektronix High-Voltage Differential Probes are ideal for making non-ground referenced, floating, or isolated measurements because of their common-mode rejection capability. Other applications include switching power supply design, motor drive design, electronic ballast design, CRT display design, power converter design and service, as well as power device evaluation.