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TPD2S703Q1EVM

Name: Texas Instruments TPD2S703Q1EVM
Brand: Texas Instruments
SKU: 595-TPD2S703Q1EVM
Price: 54.78 EUR
Availability: InStock

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N° Mouser :

595-TPD2S703Q1EVM

N° de fab. :

TPD2S703Q1EVM

Fab. :

Texas Instruments

Description :

Outils de développement d'interface TPD2S703Q1 EVM

Fiche technique:

TPD2S703Q1EVM Fiche technique

En stock: 2

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Attribut de produit	Valeur d'attribut	Sélectionner l'attribut
Fabricant:	Texas Instruments
Catégorie du produit:	Outils de développement d'interface
RoHS:	N
Produit:	Evaluation Modules
Type:	ESD Suppressor
L'outil sert à l'évaluation de:	TPD2S703-Q1
Marque:	Texas Instruments
Tension d'alimentation de fonctionnement:	5 V
Type de produit:	Interface Development Tools
Série:	TPD2S703
Nombre de pièces de l'usine:	1
Sous-catégorie:	Development Tools

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Fiche technique

TPD2S703Q1EVM Fiche technique

Codes de conformité

TARIC:: 9030820000
CNHTS:: 8543709990
CAHTS:: 9030820000
USHTS:: 9030820000
KRHTS:: 9030820000
MXHTS:: 9030820100
ECCN:: EAR99

Classifications d’origine

Pays d'origine:: États-Unis
Pays d'origine de l'assemblage:: Non disponible
Pays de diffusion:: Non disponible

Le pays est susceptible de changer au moment de l’expédition.

TPD2S703Q1EVM Data Line Evaluation Module

Texas Instruments TPD2S703Q1EVM Data Line Evaluation Module (EVM) helps designers evaluate the operation and performance of the TPD2S703-Q1 device. The TPD2S703-Q1 allows users to protect the data lines of their USB interface in a small, easily-routed package. The evaluation module offers five varieties of the TPD2S703-Q1 that showcase multiple package options in different configurations to allow the user to test it however they prefer. The TPD2S703Q1EVM offers both a DGS and DSK package option in a pass-through configuration for system-level testing, as well as with SMA connectors to measure S-parameters. The evaluation module also offers a configuration with strike points to measure the response to an ESD impulse. Finally, the evaluation module offers blank traces to give a baseline while testing.