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TPS25984B0RZJR

Name: Texas Instruments TPS25984B0RZJR
Brand: Texas Instruments
SKU: 595-TPS25984B0RZJR
Price: 7.07 EUR
Availability: InStock

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N° Mouser :

595-TPS25984B0RZJR

N° de fab. :

TPS25984B0RZJR

Fab. :

Texas Instruments

Description :

Contrôleurs de tension à remplacement à chaud 4.5V to 16V 0.8mohm 70A stackable eFus

Cycle de vie:

Nouveau produit:

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Fiche technique:

TPS25984B0RZJR Fiche technique

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	3,57 €	1 785,00 €
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Attribut de produit	Valeur d'attribut	Sélectionner l'attribut
Fabricant:	Texas Instruments
Catégorie du produit:	Contrôleurs de tension à remplacement à chaud
RoHS:
Produit:	Stackable Integrated Hotswap (eFuse)
Limite de courant:	10 A to 55 A
Tension d’alimentation - Max.:	16 V
Tension d’alimentation - Min.:	4.5 V
Courant d'alimentation de fonctionnement:	70 A
Température de fonctionnement min.:	- 40 C
Température de fonctionnement max.:	+ 125 C
Style de montage:	SMD/SMT
Package/Boîte:	WQFN-FCRLF-32
Conditionnement:	Reel
Conditionnement:	Cut Tape
Détection des problèmes d'alimentation:	Yes
Marque:	Texas Instruments
Pays d’assemblage:	Not Available
Pays de diffusion:	Not Available
Pays d'origine:	PH
Kit de développement:	TPS25984BEVM
Tension d’alimentation / en entrée maximale:	16 V
Tension d’alimentation / en entrée minimale:	4.5 V
Sensibles à l’humidité:	Yes
Type de produit:	Hot Swap Voltage Controllers
Série:	TPS25984B
Nombre de pièces de l'usine:	3000
Sous-catégorie:	PMIC - Power Management ICs

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USHTS:: 8542390090
MXHTS:: 8542399999
ECCN:: EAR99

Fusibles électroniques empilables TPS25984B

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LM5060 High-Side Protection Controllers

Texas Instruments LM5060 High-Side Protection Controllers with Low Quiescent Current offers intelligent control of a high-side N-channel MOSFET during normal on/off transitions and fault conditions. The constant rise time of the output voltage results from the inrush current control. Both an Input UVLO (with hysteresis) and a programmable input OVP are provided, with an enable input offering a remote on or off control. The initial start-up V_GS fault detection delay time, the transition V_DS fault detection delay time, and the continuous over-current V_DS fault detection delay time is programmed from a single capacitor. The MOSFET is latched off until either the enable input, or the UVLO input is toggled low and then high when a detected fault condition persists longer than the allowed fault delay time.