TPD3S716-Q1EVM

Texas Instruments
595-TPD3S716-Q1EVM
TPD3S716-Q1EVM

Fab. :

Description :
Outils de développement de circuits intégrés pour la gestion de l'alimentation TPD3S716-Q1EVM

Fiche technique:
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Texas Instruments
Catégorie du produit: Outils de développement de circuits intégrés pour la gestion de l'alimentation
RoHS: N
Evaluation Modules
Power Switch
3.3 V, 5 V
TPD3S716-Q1
TPD3S716
Marque: Texas Instruments
Type d'interface: USB
Température de fonctionnement max.: + 125 C
Température de fonctionnement min.: - 40 C
Type de produit: Power Management IC Development Tools
Qualification: AEC-Q100
Nombre de pièces de l'usine: 1
Sous-catégorie: Development Tools
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Attributs sélectionnés: 0

Fiche technique

Codes de conformité
TARIC:
8473302000
CNHTS:
8473309000
USHTS:
8473301180
MXHTS:
8473300499
ECCN:
EAR99
Classifications d’origine
Pays d'origine:
États-Unis
Pays d'origine de l'assemblage:
Non disponible
Pays de diffusion:
Non disponible
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TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM) is designed to help evaluate the TPD3S716-Q1. The TPD3S716-Q1 is a USB 2.0 interface protection with adjustable current limit and short-to-battery protection. Each evaluation module contains four TPD3S716-Q1 devices. One TPD3S716-Q1 (U1) is configured with two USB 2.0 Type-A connectors (USB1 and USB2) for capturing system-level tests. One TPD3S716-Q1 (U2) is configured with four SMA (S1–S4) connectors to allow 4-port analysis with a vector network analyzer. One TPD3S716-Q1 (U3) is configured with test points for striking ESD to the protection pins. U3 is also configured for capturing clamping waveforms using J3 with an oscilloscope during an ESD test. One Texas Instruments TPD3S716-Q1 (U4) is pinned out for device-level tests.

En stock: 2

Stock:
2 Expédition possible immédiatement
Délai usine :
12 Semaines Délai de production estimé en usine pour des quantités supérieures à celles indiquées.
Minimum : 1   Multiples : 1   Maximum : 5
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