ScioSense Les plus récent(e)s Outils de développement de circuits intégrés de conversion de données

ScioSense AS6501 Development Kits
ScioSense AS6501 Development Kits
12/13/2022
Allow a quick and intuitive approach to using the AS6501 2-channel time-to-digital converter.
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Analog Devices Inc. Kit d'évaluation EVAL-ADEMA127KTZ
Analog Devices Inc. Kit d'évaluation EVAL-ADEMA127KTZ
12/18/2025
Kit d'évaluation à deux cartes pour les convertisseurs CAN ADEMA124 Σ Δ à 4 canaux et ADEMA127 à 7 canaux.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADMX6001
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADMX6001
12/11/2025
Doté du CAN haute vitesse 12 bits à faible bruit AD9213 et du CAN de précision AD4080 à 20 bits.
NXP Semiconductors Cartes d'évaluation NAFE33352
NXP Semiconductors Cartes d'évaluation NAFE33352
10/22/2025
Les cartes sont conçues pour tester le NAFE33352, un frontal analogique AIO universel configurable par logiciel.
Texas Instruments Module d'évaluation métrologique ADS131M08MET-EVM
Texas Instruments Module d'évaluation métrologique ADS131M08MET-EVM
10/22/2025
Implémente l'ADS131M08 et le MSPM0G1506SRHB pour effectuer des mesures d'énergies triphasées de classe 0,1.
Texas Instruments Module d'évaluation ADC34RF72EVM
Texas Instruments Module d'évaluation ADC34RF72EVM
10/22/2025
Développé pour démontrer rapidement et facilement la famille de CAN haute vitesse ADC34RF7x.
Silanna Plural™ Evaluation Kits
Silanna Plural™ Evaluation Kits
10/16/2025
Designed to evaluate Plural™ series Analog-to-Digital Converters (ADCs).
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD7091R-8ARDZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD7091R-8ARDZ
10/13/2025
Permet une évaluation facile de toutes les fonctionnalités de la famille AD7091R-8 des CAN.
Analog Devices Inc. Blindages SPoE EVAL-10BT1L-MCS IEEE 802.3 cg
Analog Devices Inc. Blindages SPoE EVAL-10BT1L-MCS IEEE 802.3 cg
10/01/2025
Compatibles avec les cartes mères d'évaluation pour dispositif alimenté (PD) et d'équipement source d'alimentation (PSE) SPoE.
Analog Devices Inc. Kit d'évaluation DAQ EV-ADAQ7769-1FMC1Z
Analog Devices Inc. Kit d'évaluation DAQ EV-ADAQ7769-1FMC1Z
10/01/2025
Le kit permet l'évaluation de l'ADAQ7769-1, une solution DAQ de μModule® 1 Méch/s, 24 bits.
Texas Instruments Module d'évaluation ADS131E08EVM-PDK
Texas Instruments Module d'évaluation ADS131E08EVM-PDK
09/23/2025
Conçu pour démontrer facilement le CAN ADS131E08 24 bits, 64 kSPS, 8 canaux, delta-sigma.
Analog Devices Inc. Panneaux d'évaluation EVAL-AD4060-ARDZ et EVAL-AD4062-ARDZ
Analog Devices Inc. Panneaux d'évaluation EVAL-AD4060-ARDZ et EVAL-AD4062-ARDZ
09/03/2025
Permettent une évaluation rapide et facile des performances et des fonctionnalités des CAN AD4060 ou AD4062.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD4080ARDZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD4080ARDZ
09/03/2025
Permet d'évaluer rapidement et facilement les performances et les fonctionnalités des CAN AD4080/AD4081/AD4084.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADAQ4216-FMCZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADAQ4216-FMCZ
08/07/2025
Conçue pour démontrer la performance du SiP d'acquisition de données de précision (DAQ) ADAQ4216.
Analog Devices Inc. Système d'acquisition de données (DAQ) EVAL-CN0561-ARDZ
Analog Devices Inc. Système d'acquisition de données (DAQ) EVAL-CN0561-ARDZ
08/06/2025
Système à quatre canaux, 24 bits, sans repliement et à haute performance, conçu pour l'interface des capteurs IEPE.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EV-AD74416H-ARDZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EV-AD74416H-ARDZ
05/28/2025
Plateforme puissante pour évaluer l’AD74416H dans des scénarios industriels et d’automatisation réels.
Texas Instruments Kit de démonstration de performance ADC168M102REVM-PDK
Texas Instruments Kit de démonstration de performance ADC168M102REVM-PDK
04/23/2025
Conçu pour évaluer les performances de l'ADC168M102R-SEP, un CAN 1 MSPS de 16 bits et à 8 canaux.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD3530RARDZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD3530RARDZ
03/26/2025
Basée sur les convertisseurs numériques-analogiques (CNA) à 8 canaux et sortie de tension 16 bits, AD3530/AD3530R
Analog Devices Inc. Cartes d'évaluation EVAL-AD5781ARDZ/EVAL-AD5791ARDZ
Analog Devices Inc. Cartes d'évaluation EVAL-AD5781ARDZ/EVAL-AD5791ARDZ
03/26/2025
Permet un prototypage rapide des circuits AD5781 et AD5791, réduisant ainsi le temps de conception.
Analog Devices Inc. cartes EV-ADAQ4370, EV-ADAQ4380, etEV-ADAQ4381
Analog Devices Inc. cartes EV-ADAQ4370, EV-ADAQ4380, etEV-ADAQ4381
03/25/2025
Évaluation simple des solutions d’acquisition de données μModule ADAQ4380-4, ADAQ4370-4 et ADAQ4381-4.
Texas Instruments Module d’évaluation TIEVM-ARC-AFE
Texas Instruments Module d’évaluation TIEVM-ARC-AFE
03/05/2025
Dispose d’un frontal analogique pour la détection d’arc CC dans les applications solaires basées sur l’IA.
Nisshinbo NA2204NB-EV Evaluation Board
Nisshinbo NA2204NB-EV Evaluation Board
02/26/2025
Designed to evaluate the NA2204 Analog Front End (AFE) with a high-precision 24-bit A-D converter.
Texas Instruments Module d'évaluation ADC3664EVMCVAL
Texas Instruments Module d'évaluation ADC3664EVMCVAL
02/07/2025
Démontre les convertisseurs ADC3664-SP à faible bruit et ultra-faible consommation d'énergie.
Texas Instruments Module d'évaluation DAC121S101SEPEVM
Texas Instruments Module d'évaluation DAC121S101SEPEVM
02/07/2025
Une plateforme facile à utiliser pour démontrer le CNA DAC121S101-SEP.
NXP Semiconductors Carte Arduino Shield AFE à 8 canaux NAFE13388-UIM
NXP Semiconductors Carte Arduino Shield AFE à 8 canaux NAFE13388-UIM
02/06/2025
Évalue les AFE à entrées analogiques multicanaux hautement configurables et de qualité industrielle NAFExx388.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADAQ4224-FMCZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADAQ4224-FMCZ
01/28/2025
Permet une évaluation rapide et facile des performances de la solution d'acquisition de données (DAQ) μModule® ADAQ4224.
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