Analog Devices Inc. Système d'acquisition de données (DAS) AD4851 250 kSPS
Le système d'acquisition de données (DAS) 250kSPS AD4851 d'Analog Devices est un DAS 16 bits à échantillonnage simultané, à quatre canaux et entièrement tamponné, capable de fonctionner à 250kSPS et doté d'entrées différentielles avec une large plage de mode commun. Conçu pour fonctionner avec une alimentation de faible tension de 5 V et pour prendre en charge des options d'alimentation flexible du tampon d'entrée, l'AD4851 d'ADI utilise une référence interne de précision à faible dérive et un tampon de référence. Chaque canal prend en charge des plages SoftSpan configurables indépendamment, permettant d'adapter les plages d'entrée à l'oscillation du signal de l'application. Cette adaptation de la plage d'entrée réduit le besoin de composants de conditionnement de signal externes. L'AD4851 comprend également la technologie SHDR (plage dynamique étendue fluide), qui ajuste automatiquement le gain du chemin du signal d'entrée du canal sur chaque échantillon, réduisant ainsi le bruit du convertisseur sans affecter la linéarité.
L’AD4851 peut numériser directement des signaux avec des oscillations arbitraires sur INx+ et INx- en utilisant la largeur de bande d’entrée de 11 MHz, des tampons de courant de polarisation de l'ordre du picoampère, une large plage de mode commun d’entrée et un taux de réjection en mode commun (CMRR) de 120 dB. Le suréchantillonnage 16 bits en option améliore encore le SNR et laportée dynamique. De plus, les options d'étalonnage par canal (y compris les réglages de décalage, de gain et de phase) permettent une correction d'erreur au niveau du système en amont du DAS.
Pour la configuration, l’AD4851 d’ADI offre une interface de registre basée sur SPI, compatible avec des niveaux d’alimentation de 0,9 V à 5,25 V. Le dispositif prend en charge les formats de données de sortie LVDS et CMOS, sélectionnables via la broche LVDS/CMOS, et permet de disposer d'une à quatre lignes de sortie de données CMOS afin d'équilibrer la largeur du bus avec les exigences de débit. Le boîtier BGA compact de 7 mm × 7 mm à 64 billes comprend tous les condensateurs essentiels d’alimentation et de dérivation de référence, ce qui réduit le nombre total de composants, minimise la sensibilité de disposition et diminue l'empreinte globale de la solution. Le dispositif fonctionne sur une plage de température industrielle étendue de -40 °C à +125 °C.
Caractéristiques
- Système d'acquisition de données 16 bits complet
- Échantillonnage simultané de quatre canaux avec tampons internes
- 250 kSPS par canal
- Entrées différentielles avec large plage de mode commun
- Colurant de fuite d'entrée standard de ±75 pA à +25 °C
- Temps de stabilisation de l'échelon d'entrée à pleine échelle < 300 ns>
- Référence intégrée et tampon de référence (4,096 V)
- Condensateurs de découplage d’alimentation intégrés
- 36 mW par canal à 250 kSPS, proportionnels à la cadence d'acquisition
- Conditionnement externe du signal minimal
- Plage dynamique élevée et transparente
- Plage de gain automatique par échantillon, par canal
- Maintient INL de niveau ppm
- Plages d’entrée SoftSpan par canal, bipolaires ou unipolaires
- ±40 V, ±25 V, ±20 V, ±12,5 V, ±10 V, ±6,25 V, ±5 V, ±2,5 V
- 0 V à 40 V, 25 V, 20 V, 12,5 V, 10 V, 6,25 V, 5 V, 2,5 V
- Tolérance de suralimentation d’entrée Rail-à-rail
- Haute performance
- INL standard de ±160 μV (plage ±40 V)
- SNR standard de 94,6 dB en conversion unique (plage ±40 V)
- Plage dynamique standard de 98,1 dB en conversion unique (plage ±40 V)
- THD standard de −117 dB (plage ±40 V)
- CMRR standard de 120 dB
- Flexibilité numérique
- entrée et sortie SPI CMOS (0,9 V à 5,25 V) et LVDS en série
- Suréchantillonnage optionnel avec moyenne numérique 16 bits
- Correction optionnelle de l'offset, du gain et de la phase
- Encombrement 7,00 mm de solution complète BGA × 7,00 mm, 64-ball
Applications
- Équipement de test automatique
- Avionique et aérospatiale
- Instrumentation et systèmes de contrôle
- Fabrication de dispositifs semiconducteurs
- Mesures et tests
Caractéristiques techniques
- Plage de tension d'alimentation d'entrée de 7,25 V à 48 V
- Entrées analogiques
- CMRR standard de 120 dB
- Tolérance au courant de sur-excitation d'entrée jusqu'à 10 mA
- Courant de fuite d'entrée de ±40 nA
- Résistance d'entrée standard de 1000 GΩ
- Capacité d'entrée standard de 4 pF
- Retard d'ouverture standard de 1 ns
- Appariement standard du retard d'ouverture de 300 ps
- Gigue d'ouverture standard de 1 ps RMS
- Temps d'établissement standard de 300 ns pour un échelon d'entrée pleine échelle
- Dissipation de puissance
- 443 mW max. en mode sortie de données CMOS
- 475 mW max. en mode sortie de données LVDS
- Précision en CA
- Plage dynamique standard de 98,1 dB avec suréchantillonnage
- Rapport signal-bruit-et-distorsion (SINAD) standard de 94,6 dB
- Précision en CC
- Plage d'erreur INL maximale de 76 µV à 1220 µV
- Erreur de non-linéarité différentielle (DNL) standard de ±0,2 LSB
- Plage de bruit de transition standard de 73 µVRMS à 461 µVRMS
- Erreur d'offset de ±1300 µV
- Dérive standard de l'erreur d'offset de ±1,5 µV/°C
- Erreur de pleine échelle de ±0,035 % FS
- Dérive standard de l'erreur de pleine échelle de ±1,5 ppm/°C
- Plage de température de fonctionnement de -40 °C à +125 °C
Schéma fonctionnel
