onsemi Carte d'évaluation EVBUM2897G-EVB
La carte d'évaluation EVBUM2897G-EVB Onsemi est conçue pour la mesure comparative des MOSFET et IGBTs Elite SiC dans divers boîtiers discrets. La carte EVBUM2897G-EVB d'onsemi permet aux utilisateurs de rapidement tester et évaluer les performances commutation de dispositifs sur six types de boîtier : TO247-3L, TO247-4L, D2PAK-7L, BPAK7, TOLL et POWER88. Ce système fournit une solution efficace pour les tests les performances et la comparaison de dispositifs avec une fonctionnalité DPT discrète pour une exploitation optimisée.
Caractéristiques
- PCB FR4 à quatre couches avec épaisseur de cuivre de 70 µm
- Conception de PCB à faible inductance
- Conçu pour prendre en charge des dispositifs jusqu'à 1 200 V
- Commandes de grilles isolées avec isolation de 2,5 kV
- Condensateurs à film ou électrolytiques optionnels pour bus CC (DC link)
- Transformateur de mesure de courant intégré
- Inductance de 80 µH enroulée sur fil intégrée
- Liaison CC jusqu'à 1 100 V
Applications
- Test de la performance de commutation des MOSFET et IGBTs SiC
- Comparaison des performances entre différents boîtiers de dispositifs discrets
- Évaluation des dispositifs dans les boîtiers TO247-3L, TO247-4L, D2PAK-7L, BPAK7, TOLL et POWER88
Schéma fonctionnel
cartes filles
onsemi Cartes filles EVBUM2909G-EVK
Un ensemble d'extensions conçu pour le testeur discret double pulse EVBUM2897.
Publié le: 2025-01-20
| Mis à jour le: 2025-03-09