Texas Instruments Module d'évaluation TPS1685EVM
Le module d'évaluation TPS1685EVM de Texas Instruments est conçu pour faciliter l'évaluation du fusible électronique TPS1685. Le TPS1685EVM comprend deux fusibles électroniques TPS16851 connectés en parallèle pour démontrer une configuration de 54 V (standard) et de 40 A (à l'état stable). Le module d'évaluation TPS1685EVM de TI intègre deux dispositifs TPS16851 en parallèle, ce quiprend en charge une configuration de protection de chemin d'alimentation d'entrée de 2 kW à une tension d'entrée de 48 V.
Caractéristiques
- Seuil de disjoncteur programmable de 10 A à 44 A à l'aide de cavaliers embarqués
- Tension de référence réglable pour une protection contre les surintensités et blocs de partage de courant actifs
- Protections contre les sous-tensions et les surtensions
- Contrôle de la vitesse de balayage de la tension de sortie réglable à l'aide de cavaliers embarqués
- Minuteur d'effacement transitoire réglable à l'aide de cavaliers embarqués
- Fonctionnement de 40 V à 60 V (standard)
- Seuil de partage de courant actif réglable à l'aide de cavaliers embarqués
- Seuil de déclenchement rapide, évolutif et réglable à l'aide de cavaliers embarqués
- Diode TVS pour la protection contre les transitoires d'entrée et diode SCHOTTKY pour la protection contre les transitoires de sortie
- LED d'état pour les indications de défaut et de bonne alimentation
- Options pour activer le cycle d'alimentation et la décharge de sortie rapide (QOD)
Applications
- Applications
- Échange à chaud et branchement à chaud en entrée
- Serveur et informatique à hautes performances
- Cartes d'interface réseau
- Cartes d'accélérateur matériel et graphiques
- Commutateurs et routeurs de centre de données
- Plateaux de ventilateur
- Commutateurs et routeurs
Fusibles électroniques associés
Texas Instruments Fusibles électroniques permutables à chaud intégrés empilables TPS1685
Protection de circuit à courant élevé intégrée et dispositifs PMIC avec surveillance du courant précise et rapide.
Configuration avec équipement de test
Publié le: 2025-10-29
| Mis à jour le: 2025-11-05