Nexperia Carte d'évaluation NEVB-NID1100UL

La carte d'évaluation NEVB-NID1100UL de Nexperia est un outil polyvalent conçu pour faciliter le test et l'évaluation de la diode idéale NID1100. Ce PCB à deux couches intègre deux diodes NID1100 et un transistor PMOS, permettant aux utilisateurs d'explorer les performances de la diode dans diverses conditions. La carte NEVB-NID1100UL de Nexperia prend en charge une plage de tension d'entrée de 1,5 V à 5,5 V et peut gérer un courant de sortie continu pouvant atteindre 1 A. La carte dispose de plusieurs entrées d'alimentation électrique, dont trois entrées standard et deux entrées USB-C optionnelles, apportant de la flexibilité pour différents scénarios de test. Le PCB comprend également des cavaliers pour la sélection des cas d'utilisation et des broches de test pour un accès facile à toutes les broches du dispositif. Elle offre aussi des capacités de test de court-circuit, ce qui en fait un excellent outil pour une évaluation complète des capacités de la NID1100.

Caractéristiques

  • PCB 2 couches équipé de deux diodes idéales NID1100 et d'un transistor PMOS
  • Plage de tension d'exploitation en entrée (VIN) de 1,5 V à 5,5 V
  • Courant de sortie continu de 1 A
  • Trois entrées d'alimentation : VIN1, VIN2 et VIN3
  • Deux entrées d'alimentation USB Type-C® optionnelles pour VIN1 et VIN2
  • Accès à toutes les broches du dispositif
  • Sélection du cas d'utilisation à l'aide de connecteurs
  • Test de court-circuit

Applications

  • Systèmes Internet des objets (IoT)
  • Compteurs de gaz et compteurs intelligents
  • Détecteurs de CO
  • Systèmes de batteries de secours
  • Dispositifs alimentés par USB

Positions des connecteurs / connexions d'alimentation

Circuit de localisation - Nexperia Carte d'évaluation NEVB-NID1100UL
Publié le: 2025-04-02 | Mis à jour le: 2025-05-22