Texas Instruments Module d'évaluation HALL-HINGE-EVM
Le module d'évaluation HALL-HINGE-EVM de Texas Instruments offre des structures imprimées en 3D et un aimant pour évaluer le TMAG5231B1 dans un appareil de fermeture à charnière-couvercle. La fonction de fermeture de couvercle à charnière est couramment utilisée dans les fermetures de couvercle d'ordinateur portable et d'autres applications de détection de couvercle et de porte.
Le module d'évaluation HALL-HINGE-EVM de TI est compatible avec le HALL-ADAPTER-EVM pour permettre des tests de portefeuille de détection magnétique TI plus larges.
Caractéristiques
- Démontre le TMAG5231 dans une application de fermeture à couvercle à charnière
- Compatible avec le HALL-ADAPTER-EVM pour l'évaluation des produits du portefeuille à effet Hall
- Des fichiers de source d'impression 3D sont disponibles pour une personnalisation
Contenu du kit
- Support de batterie AAA optionnel
- Aimant cube NdFeB de 1/8 pouce (N42)
- Assemblage de charnière imprimé en 3D
Ressources supplémentaires
Produits associés
Texas Instruments Commutateur à effet Hall et faible puissance TMAG5231
Conçu pour optimiser le coût du système pour les applications industrielles & grand public compactes et alimentées par batterie.
Module d'évaluation associés
Texas Instruments HALL-ADAPTER-EVM Hall Sensor Evaluation Module
Speeds up your switch, latch and linear hall sensor prototyping and testing.
Configuration de la PCB
Ce qui est inclus
Publié le: 2022-05-24
| Mis à jour le: 2023-10-27