Nouveauté Outils de développement de circuits intégrés de conversion de données

La carte d'évaluation EVAL-AD5710R d'Analog Devices Inc. est conçue pour évaluer l'IDAC/VDAC configurable à 8 canaux et 16 bits AD5710R. Cette carte comporte une solution d’alimentation utilisant le régulateur de commutation MAX77859 pour générer 6 V via un câble USB Type-C®. La carte d'évaluation EVAL-AD5710R communique avec un PC via USB à travers la carte SDP-K1. Cette carte fournit des régulateurs embarqués de 1,8 V (U8) pour IOVDD et 3,3 V à 5 V (U2) pour AVDD et PVDD0 et PVDD1.
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Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD5710RComporte une solution d’alimentation utilisant le régulateur de commutation MAX77859 pour générer 6 V via un câble USB-C®.02/03/2026 -
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-LTC2662Conçue pour évaluer le CNA LTC2662 16 bits, à sortie de courant sur 5 canaux, pour un prototypage rapide.02/03/2026 -
Analog Devices Inc. Kit d'évaluation EVAL-ADEMA127KTZKit d'évaluation à deux cartes pour les convertisseurs CAN ADEMA124 Σ Δ à 4 canaux et ADEMA127 à 7 canaux.18/12/2025 -
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADMX6001Doté du CAN haute vitesse 12 bits à faible bruit AD9213 et du CAN de précision AD4080 à 20 bits.11/12/2025 -
Texas Instruments Module d'évaluation ADC34RF72EVMDéveloppé pour démontrer rapidement et facilement la famille de CAN haute vitesse ADC34RF7x.22/10/2025 -
Texas Instruments Module d'évaluation métrologique ADS131M08MET-EVMImplémente l'ADS131M08 et le MSPM0G1506SRHB pour effectuer des mesures d'énergies triphasées de classe 0,1.22/10/2025 -
NXP Semiconductors Cartes d'évaluation NAFE33352Les cartes sont conçues pour tester le NAFE33352, un frontal analogique AIO universel configurable par logiciel.22/10/2025 -
Silanna Plural™ Evaluation KitsDesigned to evaluate Plural™ series Analog-to-Digital Converters (ADCs).16/10/2025 -
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD7091R-8ARDZPermet une évaluation facile de toutes les fonctionnalités de la famille AD7091R-8 des CAN.13/10/2025 -
Analog Devices Inc. Blindages SPoE EVAL-10BT1L-MCS IEEE 802.3 cgCompatibles avec les cartes mères d'évaluation pour dispositif alimenté (PD) et d'équipement source d'alimentation (PSE) SPoE.01/10/2025 -
Analog Devices Inc. Kit d'évaluation DAQ EV-ADAQ7769-1FMC1ZLe kit permet l'évaluation de l'ADAQ7769-1, une solution DAQ de μModule® 1 Méch/s, 24 bits.01/10/2025 -
Texas Instruments Module d'évaluation ADS131E08EVM-PDKConçu pour démontrer facilement le CAN ADS131E08 24 bits, 64 kSPS, 8 canaux, delta-sigma.23/09/2025 -
Analog Devices Inc. Panneaux d'évaluation EVAL-AD4060-ARDZ et EVAL-AD4062-ARDZPermettent une évaluation rapide et facile des performances et des fonctionnalités des CAN AD4060 ou AD4062.03/09/2025 -
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD4080ARDZPermet d'évaluer rapidement et facilement les performances et les fonctionnalités des CAN AD4080/AD4081/AD4084.03/09/2025 -
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADAQ4216-FMCZConçue pour démontrer la performance du SiP d'acquisition de données de précision (DAQ) ADAQ4216.07/08/2025 -
Analog Devices Inc. Système d'acquisition de données (DAQ) EVAL-CN0561-ARDZSystème à quatre canaux, 24 bits, sans repliement et à haute performance, conçu pour l'interface des capteurs IEPE.06/08/2025 -
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EV-AD74416H-ARDZPlateforme puissante pour évaluer l’AD74416H dans des scénarios industriels et d’automatisation réels.28/05/2025 -
ScioSense LTDC-X3-QF_DK Development KitLTDC-X3-QF_DK_RB reference board V1.1, LTDC-X3 SPI-USB interface, and USB-C data cable01/05/2025 -
Texas Instruments Kit de démonstration de performance ADC168M102REVM-PDKConçu pour évaluer les performances de l'ADC168M102R-SEP, un CAN 1 MSPS de 16 bits et à 8 canaux.23/04/2025 -
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD3530RARDZBasée sur les convertisseurs numériques-analogiques (CNA) à 8 canaux et sortie de tension 16 bits, AD3530/AD3530R26/03/2025 -
Analog Devices Inc. Cartes d'évaluation EVAL-AD5781ARDZ/EVAL-AD5791ARDZPermet un prototypage rapide des circuits AD5781 et AD5791, réduisant ainsi le temps de conception.26/03/2025 -
Analog Devices Inc. cartes EV-ADAQ4370, EV-ADAQ4380, etEV-ADAQ4381Évaluation simple des solutions d’acquisition de données μModule ADAQ4380-4, ADAQ4370-4 et ADAQ4381-4.25/03/2025 -
Texas Instruments Module d’évaluation TIEVM-ARC-AFEDispose d’un frontal analogique pour la détection d’arc CC dans les applications solaires basées sur l’IA.05/03/2025 -
Nisshinbo NA2204NB-EV Evaluation BoardDesigned to evaluate the NA2204 Analog Front End (AFE) with a high-precision 24-bit A-D converter.26/02/2025 -
Texas Instruments Module d'évaluation DAC121S101SEPEVMUne plateforme facile à utiliser pour démontrer le CNA DAC121S101-SEP.07/02/2025 -
